产品展示 - 长度测量 - 敞开式直线光栅尺
名称 | 产品描述 |
LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:4µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:4µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:4µm |
LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:2µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:2µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:2µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:0.4µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:0.4µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:0.4µm |
LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:0.2µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:0.2µm
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LIDA 473C |
测量标准:
信号周期:0.2µm
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LIDA 483C |
测量标准:
信号周期:20µm
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LIDA 277 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:20µm
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LIDA 277 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:4µm
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LIDA 277 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:2µm
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LIDA 279 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:4µm
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LIDA 279 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:20µm
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LIDA 279 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:2µm
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LIDA 287 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:200µm
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LIDA 289 |
测量标准:钢光栅尺带
信号周期:200µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:4µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:4µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:4µm |
LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:2µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:2µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:2µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:0.4µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:0.4µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:0.4µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:0.2µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:0.2µm
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LIDA 473 |
测量标准:
信号周期:0.2µm
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LIDA 475 |
测量标准:AURODUR刻线的钢带光栅尺
信号周期:内置5倍频细分: 4 µm
内置10倍频细分: 2 µm |
LIDA 477 |
测量标准:AURODUR刻线的钢带光栅尺
信号周期:内置5倍频细分: 4 µm
内置10倍频细分: 2 µm |
LIDA 483 |
测量标准:
信号周期:20µm
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LIDA 485 |
测量标准:AURODUR刻线的钢带光栅尺
信号周期:20µm
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LIDA 487 |
测量标准:AURODUR刻线的钢带光栅尺
信号周期:20µm
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LIDA 573 |
测量标准:METALLUR graduation on
glass
信号周期:4µm
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LIDA 573 |
测量标准:METALLUR graduation on
glass
信号周期:2µm
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LIDA 573 |
测量标准:METALLUR graduation on
glass
信号周期:0.8µm
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LIDA 573 |
测量标准:METALLUR graduation on
glass
信号周期:0.4µm
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LIDA 583 |
测量标准:METALLUR graduation on
glass
信号周期:20µm
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LIF 471 |
测量标准:最大至ML 220 mm: SUPRADUR
phase grating on glass
L 270后:玻璃基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:integr. 100-fold interp.:
0.01µm
integr. 50-fold interp.: 0.02 µm integr. 50-fold interp.: 0.05 µm integr. 50-fold interp.: 0.1 µm integr. 5-fold interp.: 0.2 µm |
LIF 481 |
测量标准:最大至ML 220 mm: SUPRADUR
phase grating on glass
L 270后:玻璃基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:4µm
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LIP 471A |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷或玻璃基体上DIADUR相位光栅
信号周期:0.4µm
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LIP 471R |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷或玻璃基体上DIADUR相位光栅
信号周期:0.4µm
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LIP 481A |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷或玻璃基体上DIADUR相位光栅
信号周期:2µm
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LIP 481R |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷或玻璃基体上DIADUR相位光栅
信号周期:2µm
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LIP 571C |
测量标准:玻璃基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:integr. 5-fold
interpolation: 0.8µm
integr. 10-fold interpolation: 0.4 µm |
LIP 571R |
测量标准:玻璃基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:integr. 5-fold
interpolation: 0.8µm
integr. 10-fold interpolation: 0.4 µm |
LIP 581C |
测量标准:玻璃基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:4µm
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LIP 581R |
测量标准:玻璃基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:4µm
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LIP 372 |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:0.004µm
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LIP 372 |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:0.004µm
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LIP 372 |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:0.004µm
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LIP 382 |
测量标准:Zerodur(r)玻璃陶瓷基体上的DIADUR相位光栅
信号周期:0.128µm
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PP 271 R |
测量标准:玻璃基体上TITANID(r)双坐标相位光栅
信号周期:integr. 5-fold
interpolation: 0.8µm
integr. 10-fold interpolation: 0.4 µm |
PP 281 R |
测量标准:玻璃基体上TITANID(r)双坐标相位光栅
信号周期:4µm
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